ZX8816擁有1000Vdc脈沖電壓與200MHz高速采樣率,可測試0.1uH~100uH范圍感量產(chǎn)品,具有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動偵測、波形二次微分偵測、波峰降比偵測及自諧振共振波面積比等判定功能,可有效檢測線圈自體絕緣不良,能滿足大部分功率電感測試需求。
脈沖電壓范圍 10V ~ 1000V,0.25V測量解析度
高速采樣測試,***快18ms
具有接觸檢查功能
自動電感測試檔位選擇功能
四端測量功能,施加到電感上的電壓更準確
具有電感差異電壓補償功能
脈沖測試高取樣率(200MHz), 10 bits
崩潰電壓分析功能(BDV)
中英文操作界面
U盤存儲振蕩波形功能
設置條件自動保存,下次開機自動調用
型號 | ZX8816 | |
基本參數(shù) | ||
電壓峰值 | 10V ~ 1000V | |
測試電感范圍 | 0.1uH ~ 100 uH | |
電壓精度 | ±(1% *設定電壓 + 2.0 V) | |
采樣率 | 10bits, 200MHz | |
采樣檔位 | 8檔:0,1,2,3,4,5,6,7 | |
脈沖數(shù) | 測試脈沖數(shù):1 ~ 32; 激勵脈沖數(shù):0 ~ 9 | |
波形顯示范圍 | 512*256點 | |
偵測模式 | 波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動偵測、波形二次微分偵測、波峰降比偵測及自諧振共振波面積比 | |
測試速度 | ***快18ms(Pulse = 1.0,自體諧振關閉時) | |
分選指示 | 合格/不合格 報警(蜂鳴器 和LED指示) | |
接口 | ||
接口 | RS232, HANDLER接口 | |
電源及尺寸 | ||
功耗 | 空載: < 150W 帶載: < 1000W | |
電源 | 100 ~ 240 VAC, 50/60 Hz | |
尺寸(W*H*D) | 430mm* 180mm**500mm | |
重量 | 28 kg | |
ZX8816: 小電感脈沖線圈測試儀
主要測試原理
電感脈沖線圈測試儀是在不損壞被測件的條件下測試其電氣性能。儀器能在短暫的瞬間判別線圈的品質。測量時將與標準線圈測試時同樣的脈沖通過電容器放電施加于被測線圈,由于線圈電感量和Q致的存在,將響應一個對應與該放電脈沖的電壓衰減波形。比較該衰減波形的某些特征,可以檢測線圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異,通過施加一個高壓脈沖,根據(jù)波形出現(xiàn)的顫動量和二次微分來判斷被測電感是否存在絕緣不良。
Vo: 儀器內(nèi)部電壓
Ri: 儀器內(nèi)部電阻
Ci:儀器內(nèi)部電容
Cc: 儀器內(nèi)部諧振電容
Cw: 繞線元件的雜散/寄生電容
R: 繞線元件的等效并聯(lián)電阻
Rp檢測
脈沖測試時,將開關SW閉合,電容器放電施加電壓于被測線圈。脈沖測試結束后,將開關SW開路,此時儀器檢測自體諧振波形。儀器通過比較自體諧振波形中***個正向波峰的峰值與第二個正向波峰的峰值的衰減速度及比例差異來檢測出異常產(chǎn)品。波峰比的值越大表示Rp的值也越大,相對的Q值也會比較高。
波形判定模式
1. 波形面積比較(Area Size)
在任意指定的A~B區(qū)間內(nèi)對被測線圈測試波形面積進行積分,并與標準波形在此區(qū)間內(nèi)的面積進行比較,用這兩個波形面積的差異值與標準波形在此區(qū)間的面積的百分比作為判定依據(jù),判定基準用百分比來設定。
波形面積近似的與能量損失成正比,所以可以使用面積比較方法來判斷線圈中的能量損耗,有效的檢測線圈層間和匝間短路。
2. 波形面積差比較(Differential Area)
在任意指定A~B 區(qū)間內(nèi)對被測線圈測試波形和標準波形的Y 軸方向的差異值進行計算(積分計算的結果為A~B 區(qū)間內(nèi)的陰影部分)和標準波形在此區(qū)間的面積比較,基準用百分比來設定。
3. 波形顫動檢測(Flutter Detection)
在任意指定A~B 區(qū)間內(nèi)對波形進行一階微分,計算出波形的總放電量,再與標準波形的總放電量進行比較
4. 波形放電量二次微分檢測(Laplacian Value)
在任意指定A~B 區(qū)間內(nèi)對波形進行二階微分,與標準波形對應區(qū)間內(nèi)的二次微分進行比較,可以檢測出因電氣放電或電極焊接不良引起波形快速變化的現(xiàn)象。
5. 波峰比檢測(Peak Ratio)
在崩潰電壓分析(BDV)模式下,用待測物自體諧振波形的第二個正向波峰的峰值與***個正向波峰的峰值計算波峰比。利用波峰比可評價被測件是否過度劣化。
6. 波峰降比檢測(△Peak Ratio)
在脈沖測試(IWT)模式下,將被測物自體諧振波形的第二個正向波峰的峰值與***個正向波峰的峰值計算波峰比,并將該波峰比與標準品的波峰比進行比較。如果被測件與樣品的波峰比相同,則△Peak Ratio將會等于0%。△Peak Ratio為被測件與標準品的波峰比差所占樣品的波峰下降比的比例。公式如下:
波峰差異比是并聯(lián)電阻所造成能量衰減的差異,所以可以利用波峰差異比來判定并聯(lián)電阻Rp是否異常。
7. 共振面積比較(△Resonant Area)
在脈沖測試(IWT)模式下,開關SW1斷開后,被測件所產(chǎn)生的自體諧振波形與標準樣品的自體諧振波形總面積進行比較。如果待測物的線圈絕緣與標準品接近,則共振面積應該與標準品面積接近;如果待測物的線圈絕緣不良,則共振波形會快速衰減,共振面積也會相對較小。
低感量線圈
貼片功率電感
AI GPU顯卡功率電感測試
T-CORE+熱壓大電流一體成型電感
1. 手工測試
本儀器不僅能測試小到0.1uH的電感,還可測試高達100uH的電感。相當于單臺匝間測試儀器就可以測量低感量和較高感量的電感匝間脈沖測試。電感產(chǎn)品開發(fā)設計階段可用該儀器進行產(chǎn)品性能評估。
2. 自動化測試
本儀器采用高速測量功能,測試速度可達18ms,同時采用雙同軸四線測量方式降低測試線長度的影響,可直接在匝間測試自動機上應用,為客戶自動化生產(chǎn)降本增效。
3. 崩潰電壓分析BDV
本儀器提供崩潰電壓分析功能,設定起始電壓與結束電壓及電壓上升比例,利用電壓上升過程波形面積比偵測、二次微分偵測及波峰比偵測來判定被測件的測試值是否超過設定值,測試出線圈可承受耐電壓的強度。根據(jù)這些功能,研究人員可以對產(chǎn)品進行分析與研究,針對線圈較弱的地方做改善。
特色技術
1. 四端測量技術
傳統(tǒng)的脈沖線圈匝間測試儀電壓檢測模塊檢測的是被測件與測試線上的電壓,而對于低電感被測物,測得的電壓值與實際被測物上的值有很大差異。為了解決施加電壓與被測物電壓的差異,本儀器采用了四端測量技術,減少了實測電壓值與被測物上實際電壓的差異,可達到理想的測試效果。
2. 接觸檢查
本儀器在高壓輸出前,先對測試端進行接觸檢查,檢測測試端是否夾有合適的電感。只有檢測到合適的電感,儀器才輸出高壓。這樣可以避免因接觸不良或開路使得內(nèi)部以***大電壓輸出造成治具端探針打火,進而導致待測物收到損傷。這樣做可以延長探針使用壽命。
另外,本儀器可以測量被測物的電感值,可以剔除掉被測物電感值與標準件電感值差異較大的電感。
3. 電感自動量程
開始測試時,本儀器先進行電感測量,根據(jù)測得的電感值自動選擇合適的電感量程,使得被測電感在適當?shù)牟ㄐ蜗逻M行對比測試。本測試儀可測試0.1uH~100uH的電感,可以滿足較小電感的匝間測試需求,也可以覆蓋大部分的較大電感的匝間測試需求。
4. 電壓補償功能
在針對感量較大的電感進行測試時,測試線的等效感量相對較小,但在測量低感量時,低感量待測物(如0.5uH)會因測試線等效感量會影響被測物上實際電壓。過高的測試線阻抗會使得低感量測試時電壓分壓在測試線上,導致被測物上的電壓低于設定值而無法有效檢測出不良品。同時,根據(jù)通用的電感產(chǎn)品的規(guī)格書,電感值的***高誤差可達正負30%,因此在低感量測試應用時,會因待測物感量變化而造成電感兩端電壓差異更加明顯,導致波形面積判定失效或測試電壓未達到測試要求的電壓。因此,本儀器提供電壓補償功能,降低因感量差異造成電感上實際電壓的差異,從而降低誤判的可能性。
儀器主要界面
1.標準采樣頁面(僅諧振波形)
2.標準采樣頁面(諧振波形和自諧振波形)
3.脈沖線圈測量顯示頁面(諧振波形和自諧振波形)
4.崩潰電壓分析(BDV)頁面
5.HANDLE接口
上述時序圖對應的測試條件:脈沖間隔:10ms, 脈沖1.0,觸發(fā)延時:OFF,自諧振波形關閉,儀器沒有接收任何遠程控制命令。屏幕顯示不占用測量和判別時間。
如果觸發(fā)延時時間T2設為0,則從觸發(fā)信號有效到ACQ或EOT信號變低,時間為:
ACQ = T2 + T3 + T4 = 20ms
EOT = T2 + T3 + T5 = 40ms