數(shù)顯恒速攪拌機(jī) 

數(shù)顯恒速攪拌機(jī) 型號(hào)：JB-60D
工作原理

本設(shè)備采用電子恒力調(diào)速線(xiàn)路，數(shù)字直接顯示轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)速。能適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室不同的試驗(yàn)需要，并可根據(jù)顯示的轉(zhuǎn)軸速度直接計(jì)算攪拌、分散、的線(xiàn)速度及化學(xué)反應(yīng)速率之間的關(guān)系，為大規(guī)模投產(chǎn)提供正確的工藝數(shù)據(jù)。

本機(jī)的攪拌頭在電機(jī)的高速驅(qū)動(dòng)下，產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)切向高線(xiàn)速度，物料在巨大的離心力作用下，產(chǎn)生強(qiáng)大的液力剪切和高頻機(jī)械效應(yīng)，使流體物料每分承受上千次的剪切和高頻機(jī)械效應(yīng)，從而達(dá)到效率混合、分散、的效果。

范圍和主要技術(shù)參數(shù)

本機(jī)于在容器內(nèi)進(jìn)行流體物料實(shí)驗(yàn)。

主要技術(shù)參數(shù)：

主要構(gòu)造

本機(jī)主要由以下幾個(gè)部件組成：

1、電機(jī)

2、智能控制儀（觸摸式按鍵，可隨意控制轉(zhuǎn)速）

3、不銹鋼攪拌棒

4、開(kāi)放式支架.

5、固定夾及萬(wàn)用夾具

產(chǎn)品名稱(chēng)：數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀 少子壽命測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)： LT-100C

數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀 少子壽命測(cè)試儀 型號(hào)： LT-100C 
為解決太陽(yáng)能單晶、多晶少子壽命測(cè)量，特按照國(guó)標(biāo)GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測(cè)試儀。                                                        
      該設(shè)備是按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測(cè)定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計(jì)制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國(guó)半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探測(cè)器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年，積累了豐富的使用經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過(guò)數(shù)次全國(guó)十多個(gè)單位巡回測(cè)試的考驗(yàn)，證明是一種成熟可靠的測(cè)試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測(cè)量；也可對(duì)硅片進(jìn)行測(cè)量，給出相對(duì)壽命值。方法本身對(duì)樣品表面的要求為研磨面，制樣簡(jiǎn)便。 

 LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀有以下特點(diǎn)： 
1、 可測(cè)量太陽(yáng)能級(jí)多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無(wú)需拋光，直接對(duì)切割面或研磨面進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)可測(cè)量多晶硅檢驗(yàn)棒及集成電路、整流器、晶體管級(jí)硅單晶的少子壽命。 
2、  可測(cè)量太陽(yáng)能級(jí)單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對(duì)壽命，表面無(wú)需拋光、鈍化。 
3、配備軟件的數(shù)字示波器，液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時(shí)顯示動(dòng)態(tài)光電導(dǎo)衰退波形，并可聯(lián)用打印機(jī)及計(jì)算機(jī)。 
4、配置兩種波長(zhǎng)的紅外光源： 
a、紅外光源，光穿透硅晶體深度較深≥500μm，有利于準(zhǔn)確測(cè)量晶體少數(shù)載流子體壽命。 
b、短波長(zhǎng)紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強(qiáng)，有利于測(cè)量低阻太陽(yáng)能級(jí)硅晶體。 
5、測(cè)量范圍寬廣 
測(cè)試儀可直接測(cè)量： 
a、研磨或切割面：電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對(duì)壽命。 
b、拋光面：電阻率在0.3～0.01Ω•㎝范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶拋光片。 
壽命可測(cè)范圍     0.25μS—10ms